电解式镀层测厚仪是:符合ISO(国际标准) ,JIS(日本工业标准), ASTM(美国材料试验协会), MIL(美军用标准),DIN(德国标准)的世界通用的膜厚仪。
二、电解式膜厚仪特性:
1、可做各种镀层(多层、合金、多层镍)的精密测量。
2、除平板形外,还可测量圆形、棒形(细綫)等各种形状。
3、可测量0.01um~300um的镀层。
4、可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。
5、可对测量数据进行统计处理,以及和逐级进行共同管理。
6、可制作非破坏性膜厚仪的标准板。
7、可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。
8、有微处理器来进行计算、储存、思考。
9、本膜厚仪采用全对话是操作。因此,只要依照测量条件来进行设定就可测量情况,非常简单。
10、 由于可储存64个不同的测量情况,所以有相同的测量情况时,就不必再进行设定。每个测量条件可储存9999个数据。
11、 最多可设定四层镀层,而每一层均可进行统计处理。例如:测量条件、平均值、最大值、最小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可有列印机印出,制作测量报告很容易。
12、 每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择,均可由微处理器自动判断、设定。
13、 标准板校正值的计算和设定可自动进行,非常简单。
14、 测量数据可由通讯网路来传输,所以能和主机共同进行数据管理。
15、 由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间。
16、 可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层闲的扩散(合金)层。
17、 由表面活化性的功能,所以表面处理很容易。
18、 我们独特的测量台(专利)是利用条形弹簧的方式,因此操作非常 容易